※ 引述《pabjacky (尊重多數人決定)》之銘言：
: 光子激發光譜儀主要分為EXITATION以及EMISSION兩部份
: 通常在量測上都會先用EXITATION找出激發波長
: 再利用所測量的激發波長採用EMISSION方式來得到該波長的強度
: 問題在於EMISSION所偵測強度的強弱，有何意義？
: 是薄膜厚度差異造成，還是另有其他原因。
我記得會與型態有差
晶格排列不同不僅會影響強度, 波長更有可能有shift的現象
加熱退火過更會顯出差異性
你可以嘗試用不同溫度去鍍膜, 或是用加熱的方式去改變型態
P.S.薄膜測出來的其實有時候會有差..而且會跟你鍍在什麼東西上面也有關.
不過也不是絕對..看實驗的方法..
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