→ imdean:TEM 還可作SAD及Moire patterns 06/29 00:17
→ imdean:去問問有修電鏡的人 會得到更詳細的資料 06/29 00:18
推 gary73183:我只能說修這門課是天書 06/29 01:34
推 NBL123:小大二還是不要現醜好了.... 06/29 01:56
※ [本文轉錄自 Chemistry 看板]
作者: blackangel (白雲絲) 看板: Chemistry
標題: [學科] SEM相關問題
時間: Sun Jun 28 00:54:55 2009
1.掃描電子顯微鏡/X 射線能譜法（SEM/EDS）在鑑識上常用以觀測微細碎粒的形狀
及分析所含的金屬元素。試說明
(a)微細碎粒在螢幕上構成影像的原理；
(b)X 射線產生的機制及K 系列（K series）譜線及L 系列（L series）譜線的區別。
並說明所得 X 射線能譜的特性與用途。
2.請比較掃瞄式電子顯微鏡(SEM)及穿透式電子顯微鏡(TEM)的相異處。
這些問題 我有先查過原文書了
但覺得說法有點抽象
SEM是產生二次電子 所成像的。TEM是靠高壓電子源。
但我比較不出SEM和TEM的優劣處
--
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 123.195.21.186
--
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 118.231.1.205