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現在論文在做太陽能晶片的瑕疵變化測試 需要用到EL測試系統來檢測瑕疵位置 請問有沒有研究單位或是學校有這套系統的 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 140.138.138.227 ※ 文章網址: http://www.ptt.cc/bbs/ChemEng/M.1397029106.A.3C2.html
twkscat:你是要買還是要借? 42.67.188.17 04/15 01:18
kknow:借用 但現在趨向自己用ccd兜 60.251.209.35 04/22 12:51