※ 引述《Jeffch (Jeff)》之銘言：
: ※ 引述《pabjacky (尊重多數人決定)》之銘言：
: : 光子激發光譜儀主要分為EXITATION以及EMISSION兩部份
: : 通常在量測上都會先用EXITATION找出激發波長
: : 再利用所測量的激發波長採用EMISSION方式來得到該波長的強度
: : 問題在於EMISSION所偵測強度的強弱，有何意義？
: : 是薄膜厚度差異造成，還是另有其他原因。
: 膜厚的確會造成發光譜線很大的不同，
: ，不曉得您蒸鍍厚度有多厚，尤其大於半波長後波導效應就會出來了
: 不過相關的探討很多PAPER上都查得到
: 有興趣可以去搜尋看看
: (厚度與發光波長SHIFT的關係...當然也有和強度的關係)
若以螢光材料來說
一般都是以摻雜方式控制螢光強度
所以也可以說藉由螢光強度可了解摻雜濃度及分佈狀況
若以薄膜型來說 當然厚度會影響放射光強度
因為被激發區域多寡不同
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