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各位版大 小的目前就讀研究所 研究有個部份需要用到FTIR來決定表面單分子薄膜的成分 我在文獻中有看到有人用PM-RAIRS來做定量 Polarization Modulation-Reflective Absorption Infrared Spectroscopy 而所使用的儀器是FTIR 我本身不是化學背景 對這個懂得不是很多 目前我所知的就是 不同的bond當產生stretching或bending的時候會吸收不同頻率的IR 然後IR就利用這個原理來判斷待測物的成分 FTIR只是將IR的信號經過Fourier Transform的處理(不知道有什麼好處?) 我在基材的表面上沉積了不同比例的Mixed-SAM 我知道他們的head-group 想要利用FTIR來定量表面上不同成分的SAM分子的相對量 我得到了Spectrum 但是不知道要怎麼樣去做分析 文獻中很輕易的就說出哪個peak是代表什麼bond的共振 然後好像是用peak下的面積來定量(我之前的認知是peak的高度) 我的問題是 我無法輕易的分辨peak對應到的bond 然後判斷是什麼molecule 不知道定量的時候要看peak高度 還是面積 然後光譜的縱軸可以用Abs、Intensity、R%、T% 我不知道這些量的定義為何 最後是論文中使用折射率較小的晶體說是解析度較好 但是我用的不是 這樣會影響我的結果嗎 文章很長 希望前輩們給予指點 肛溫 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 140.114.108.169
coax:Fourier Transform的優點儀分課本裡面有4點可以去看一下^^ 12/21 00:13
pttjames:我覺得你還是找本儀分課本來看一下光譜原理比較好 12/21 01:05
pttjames:IR是可以利用積分base peak的面積來做定量 不過是晶體 12/21 01:05
pttjames:高分子就不清楚了 沒有FT轉換前 做IR是要花很長時間的 12/21 01:07
mrzu:看薄膜表面要用全反射ATR-FTIR 算面積半定量有軟體可以算 12/21 01:15
mrzu:可以推算出薄膜表面接枝的大概厚度(參考用) 12/21 01:20