→ acelp:量測的線本來越短就越好 一般天線效應很低 被EMI影響? 08/14 07:30
→ rickhsu:關於量測雜訊.國際電子有個和平飽博退休工程師寫的專欄 08/14 13:08
→ rickhsu:可以去看看... 08/14 13:10
※ 引述《acelp (未來，一直來一直來)》之銘言：
: bandwidth越寬除非有雜訊couple進去 不然訊號應該越正確吧?
: 假使量測沒有問題 卻不量到正確的waveform 是不是自己的電路做錯了?
: ※ 引述《adabob (@.@")》之銘言：
: : 因為我要量測的電路在傳統示波器上可以看到我要的圖形(那台是20MHz)
: : 但是我要將圖形的數據點儲存下來 所以要將電路接到 數位示波器(600MHz)
: : 但是接到那台就發現圖形不是我要的
: : 老師就想說 是不是要把600MHz降到20MHz 才能看得出來~
假如你是做類比與高速數位訊號在一起的板子,
常會因為probe的接地迴路而couple一些本來沒有的訊號到
你量測的類比訊號裡面.
因而造成判讀的困難.
若此時將頻寬限制在20Mhz,因30Mhz以下之訊號並不容易輻射,
可以大幅協助判讀作業.
當然假如你有好的Active probe,而接地線與probe端的迴路
能限制在很小的面積裡面,且保持接地線與probe都非常短,
你是不需要限制頻寬的.
但是Active probe很貴又容易壞......
EMI radiation 只測30Mhz以上的頻段就是因為30Mhz以下不易輻射.
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