→ tonybin: 這數量級脫離一般應用 到RF板問看看吧 09/14 22:18
→ kdjf: 這和RF沒什麼關係.. 你的drift detector的細節說一下吧 09/15 19:39
→ kdjf: 實驗溫度,preamp之類的 09/15 19:40
版上的大家，大家好~~
我非本科系出身，論文題目是用silicon drift detector來偵測材料的特徵x光，
測試時是利用鐵55射源激發矽晶片中的電子電洞對，
然後產生電流脈衝經由放大器放大再送到多通道分析器作分析
只是目前晶片做出來了但是在測試的時候背景雜訊太大所以沒看到peak
由於x光頻率在300PHz~30EHZ，頻率蠻高的，
想請問要怎麼設計這頻段的帶通濾波器來把雜訊濾掉???
還是是要算出激發出的電流的頻率範圍作帶通濾波呢??
要處理像x-ray高頻率的電路在設計上有甚麼需要注意的呢
麻煩版上的大家了 謝謝
--
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 114.43.211.151
※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1442240020.A.2FD.html