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※ 引述《pony7628 (托小丫)》之銘言: : 請幫我解釋下列名詞謝謝了 : 不是中文喔 要細說一下功能 : 感激你了@@ : drian included barrier lowering : channel hot carrier effect : quasi fermi level : subthreshold slope : Degenerate semiconductor 一、汲極導致能障高度降低 (DIBL) 短通道時,VDS增加,使源極能障高度降低,使VT下降之現象 二、熱電子效應 當VDS增加,汲極與基板反偏產生累增崩潰,由於正的閘極電壓 產生之電場,使得部分電子的能量比熱平衡時能量高,稱做熱電子 這時候分三個討論 (1)如果熱電子能量很高,將穿越氧化層形成閘極電流 (2)穿過氧化層的電子一部分被陷阱捕捉,在氧化層中產生一個負 的靜電荷濃度,造成臨限電壓正平移 (3)高能電子跨越Si-SiO2介面時,將額外的介面狀態,造成臨界 電壓的平移,額外的表面散射,以及移動率的降低。 熱電子充電效應將使元件特性衰退,會使元件壽命降低。 好多喔 剩下給其他高手吧 有錯請指正 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 140.116.227.146
pony7628:謝謝你嚕 一題5分而以簡單敘述既可感謝妳^^ 03/12 18:38