※ 引述《Blueses (喪親之痛)》之銘言：
: ※ 引述《Simman (右半邊肥胖)》之銘言：
: : 事實上
: : 在作xray之前已經做過eds了
: : 做不出什麼結果
: : 因為表面金屬鍍很薄
: : 電子束打沒幾秒表面就被破壞,所以無法得到可信任的數據
: : 才會來求助於xray...
: 做EDS的話把能量降低一點看看...
: 例如15keV降為5keV
韋橋你應該試試降加速電壓的,
按照SEM的理論(這學期剛修到的),
Backscatting electron的強度是跟加速電壓成反比的,
雖然說降低電壓會降低Resolution,但那對你沒差,
至於原因我懶得打字了,反正就是這樣
而且你本來就是要打表面,更應該降低電壓的,
電子束能量越高的話打的越深,對試片的傷害程度也越大
: X-ray的話 先把peak和FWHM仔細的紀錄下來
: 由於你說你的是"線" 先把是不是基版的訊號這項排除
: 在依照宥徵跟建勳說的 去比對一下 database
: 既然是塑膠線外面包著金屬 看起來是金屬比較容易分析出來
: 用四個peak先去fit看是否有符合的金屬
: 其實方法都是大同小異沒有什麼困難的...
: 觀念上比較有缺失的是前面他們都有提過了
: FWHM的大小代表的是quality 基本上超過兩度就是非晶係了
: 當然塑膠"應該"是非晶係 但是你不能保證你外面的金屬是不是非晶係
: 這是要注意的盲點
: 當然如果你真的要問的話 應該把你的掃描方式為何
: peak跟FWHM 詳細的PO出來
: 再加個step是多少 一個step時間多久
: 這樣應該比較好一點
: 如果我沒有記錯的話
: 我們的機台在20~25之間也會出現背景值比25度以後高出不少的狀況
: 參考參考
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