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其實是來問問題的 蝕刻完後晶格面的角度 or 其他幾合形狀 怎麼量測角度?例如54.7±? (尺寸亦同) 二維的東西要量測還蠻容易的 但是三維就會碰到視角的問題 三微的資訊主要來自 wyko(老師規定要說干涉儀 囧) AFM α-step? 曾經想利用wyko的平面影像以及縱深的數據透過三角函數換算 但是wyko的平面解析度不高.失敗 請問有什麼儀器能夠直接量測角度? -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 140.114.213.92
CMOSMEMS:是群哥! FIB一切 SEM一照 就有了 06/16 04:06
savior:你想看的feature size有多大呢? 例如cavity的最大寬度是? 06/16 07:00
tzjwinfcha:SEM+1 06/17 21:00
forceout:SEM一樣會有視角問題 06/17 22:58
forceout:一樓是屁博 06/17 22:59
tzjwinfcha:可以把結構切剖面來量測呀,看cross-section 06/18 20:16
tzjwinfcha:之前實驗是這樣子做的 06/18 20:17