推 jerry78424:我只想到切斷樣品用SEM掃截面....XD 03/27 16:50
→ nightkid:這也是一種方法 03/27 16:53
推 CIA007:1.光學監控, 2.SEM, TEM, HRTEM, STM 03/27 16:56
→ nightkid:不過SEM好像不能知道物種? 03/27 16:56
※ 編輯: nightkid 來自: 140.115.220.100 (03/27 16:58)
推 jerry78424:只能大致以導電性(亮暗)區分 03/27 17:05
→ nightkid:恩 似乎QCM 或 SEM是裡面最簡單的方法了 03/27 17:07
→ nightkid:但是如果要切開他的話 會不會造成太大的誤差呢... 03/27 17:21
→ yeahbo:最簡單且便宜是用酸把部分鋁蝕刻掉,再用 surface profiler 03/27 17:27
→ yeahbo:量厚度,有錢一點就用 AFM XD 03/27 17:28
推 jerry78424:半導體薄片1~2mm沒問題,載玻片的話....不知道XD 03/27 17:45
推 jerry78424:我覺得問題在上面的鋁很容易掉,我手上的紀念品就是... 03/27 17:48
推 Navarro:我想類似超音波探傷的技術應該有機會 03/27 20:11
推 greature:貼真空膠帶去蒸鍍,拿出來後撕掉去給厚度儀或 AFM 掃 03/27 20:19
→ Navarro:感覺薄薄一層用ion bombardment比較適合 03/27 20:22
推 wind1025:喔!感謝大家的回答!^^ 03/27 21:03
推 HJsalon:是不是用RBS測呀?wafer上的薄膜厚度好像是用RBS測厚度 03/27 23:22
→ hank780420:上禮拜上課聽到可以用x-ray refraction測膜的性質? 03/28 00:36
→ dancemoon:半導體薄膜可以用折射反射率去推膜厚,金屬膜就不曉得了 03/28 02:15
→ nightkid:是xray refraction 還是 defraction? 03/28 09:30
→ hank780420:反射啊 03/28 09:53
推 threedices:類似樓上greature,拿塊玻璃,用油性麥克筆畫幾條線 03/28 10:56
→ threedices:蒸鍍完後用acetone洗掉做lift off,然後用profilometer 03/28 10:57
→ dancemoon:反射跟折射其實都有耶~不過基板不透光就不能用折射了@@ 03/28 12:25