Re: [問題] 薄膜干涉

[Airseal (冷牙)]

※ 引述《Airseal (冷牙)》之銘言：
: 大家好，這裡有個問題想請問各位。
: 這邊先定義"薄膜"的厚度為"某光源下會產生干涉現象"的厚度
: 一般而言，都認為厚度大於光源同調長度，即不會產生干涉，
: 故厚膜反射一般都是膜層兩界面的反射光強相加。
: 問題來了
: 一般（單層）薄膜干涉現象都用 I＝I1+I2+（I1*I2）^0.5*COS(2π/λ*2nd)
: 在厚度增加至接近同調長度(未達同調長度)時，
: 干涉現象是否會受到影響？（應該會吧？）
: 在其影響下，公式應做何修正？
: 不知道問題清不清楚，若需要補充的話請推文告知。
: 麻煩各位了！

請問，理論上膜層接近或大於同調長度後，就不容易看到干涉效應了
根據公式計算同調長度=λ^2／（ｎ△λ）
鹵素光源頻寬約600nm 計算起來同調長度約只有數百nm
然而量測2~3um的膜層(n~1.6)反射光譜，仍看得見明顯的干涉現象
(量測儀器光源即為鹵素燈)
想請問為何有此現象，其次膜層需至多厚反射頻譜才不會有干涉現象


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◆ From: 123.110.71.128
→ wohtp:只有數百nm？是哪裡算錯了吧。哪有一個波長以後就不同調的？
→ yeahbo:因為還有光譜分光啊...
→ Airseal:因找很多資料的公式都一樣，想請問正確的計算方式為何？
→ Airseal:y大不懂您的意思 可否再說明多一點 謝謝
→ Airseal:您是指量測儀器將白光分光後，量測光源頻寬變窄是嗎
推 ftsywind:你的干涉是指?  如果是光譜儀看到有高低起伏很正常
→ ftsywind:因為等於每個收光的pixel看到的都是窄頻
→ ftsywind:甚至你可以透過波峰波谷的間距, 推算出材料的厚度!
→ Airseal:我了解了，主因就是分光的關係，先前沒想到這點.. 謝謝!
→ Airseal:光譜儀可量測出波峰波谷的膜厚上限是否會因分光的解析度
→ Airseal:不同而改變呢?
→ ftsywind:每個膜厚, 對應一個間距, 間距>光譜儀解析度, 就可以量
→ ftsywind:2dn/λ-2dn/(λ+△λ)=2pi,這樣就約略知道間距和厚度
→ ftsywind:的關係, 就可以從實際光譜儀看到的間距, 回推回去膜厚
→ ftsywind:然後因為折射率會有微小變化,所以間距其實是會有一點變
→ ftsywind:從這一點變化, 可以再獲得色散的資訊
→ Airseal:了解了，謝謝您!