有N個檢查晶片不確定好壞
但知道一定有一半以上是好的
在測試方式是 一個測試平台可以放兩個晶片 A B
A會檢查B 而B會檢查A
如果晶片是好的
當它在測試平台上檢查的時候就會說 另一個是"good" 或是"bad"
而這個結果是完全可信的
但是如果是壞的 則結果是不可信的
也就是說 測試結果可用下表表示
A B 可能結果
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B good A good 兩個都是好的或是兩個都是壞的
B good A bad 至少一個是壞的
B bad A good 至少一個是壞的
B bad A bad 至少一個是壞的
現在有個問題
找出一個方法可以測試出好的晶片 並且說明測試的次數
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