看板 comm_and_RF 關於我們 聯絡資訊
各位達人,請問你們有試過用ADS 掃過 tsmc的電晶體size嗎? tsmc的nmos_rf有三項參數 lr,wr,nr。 我曾對著wr 和 nr做過變數掃描,也就是利用ADS裡的"parameter sweep" 去做 變數掃描。不過都會發生錯誤@@ 因為wr 和 nr 都只能用數字... 因為我想做size VS NF的關係圖。 看過很多關於LNA的paper,幾乎都會做最佳size的選擇以取得最低的雜訊點。 若各位達人有做過此分析,希望能跟你分享方法。 謝謝 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 134.208.1.113
wildwolf:不能用掃的就一個一個點跑啊...^^ 140.113.212.9 04/16 12:49
pachilachen:先拉"var",設變數之後,再把size改成 140.112.17.104 04/17 14:15
pachilachen:變數的名稱即可(單位要改回um) 140.112.17.104 04/17 14:16
gudan:我用spectre不能把電晶體的參數設成變數 218.166.73.25 04/17 23:54
PR0506:謝謝各位的意見。我試試看^^ 134.208.1.113 04/24 18:05