作者  reitetsugou (小哆)                                   看板  Strix_aluco
 標題  [材料] 假裝有認真的在整理
 時間  Thu May 26 21:28:48 2011
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I. 顯微鏡

   1. 你會在乎的事情--放大倍率 解析度 對比(輪廓)

   2. 電子顯微鏡--真空 可以mapping sigma bond pi bond 破壞樣品嚴重

   3. resolving power--波長越小 分辨率越大

   4. 增加對比--染色

                不同顯微鏡 Bright Field, Dark Field, Phase Contrast(物化實驗有
)
                           cross polarization
      Phase Contrast--讓影像的相位差加大(光通過物體會產生微小相位差 放大效果)

      螢光染料+標記---> Confocal(共軛焦顯微鏡)

      wide field就是平常顯微鏡你可以看到樣品的來自很多層的光

      confocal集中聚焦在某一個厚度的地方(depth profiling)

      (終於脫離光學顯微鏡)

   5. 電子顯微鏡

      光學顯微鏡用透鏡聚焦  電子用磁鐵(磁場)

      電子槍--Thermionic emission(加熱燈絲放出電子)
              Field emission(尖端放電)
              W, LaB6 這類無機晶體也可以放電給你看

      與物質的作用--Backscattering(能量很高所以就直接彈回去 可以看 組成)
                    Secondary(樣品被打出來的電子 能量比較低 可以看表面拓墣)
                              難怪樣品會哭哭
                    X-ray放出(含有化學訊息 就跟XPS一樣吧)
      TEM(穿透式) 造成對比的理由
          --diffraction
            原子量差異 所以常常要用重金屬染 不然你分不出細胞核或是高基氏體
            厚度差異

          stain-- negative stain 無差別殺人....喔不對是無差別染重金屬
                  (滿地屍體只是大小形狀不一?)
                  PTA: phosphotungstic acid 磷鎢酸 H3PW12O40
                  positive stain 選擇性殺人(染色)事件
                  (只殺幾個人所以很明顯?)
                  cryo TEM 冷凍樣品新鮮可口(?) 保留最原始的動態

          造成解析度有極限的原因--spherical abberation
                                  (聚焦會有一點點的失焦在)
                                  diffration limit
      SEM(scanning) 看表面 用secondary electron(能量比較低) Low Z contrast
                           可以比較簡單的把電子引誘到偵測器
      EDX(Energy Dispersive X-ray)--收X光看元素

      Focused Ion Beam 聚焦離子束 可以拿來切樣品 各種形狀都可
            (Galium ion)
   6. Scanning Probe(SPM) 原子等級-- AFM STM

      STM--樣品要有一點導電度 可以超高解析度 屌(穿隧電流對距離敏感)

      constant current--> constant state density

      也可以把原子抓起來排成字
      http://en.wikipedia.org/wiki/File:Cens_nanomanipulation3d_Trixler.jpg