奈米加工現像 有人可以幫我解釋嗎

我有一個問題想請教各位,有關材料在奈米等級加工出現的現像.
當我在金薄膜上做奈米等級的加工,類似切削的模式,
首先AFM(原子力顯微鏡)探針,接觸金薄膜,施加壓力後直線推曳,
此時,我可以偶爾發現右邊的堆屑似乎會有比左邊多的情形,
這個現像似乎是常有的情形,想請教各位有沒有可以解釋的理由
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發信人: [e-mail] (★☆-=氣勢=-☆★ ), 看板: Physics
標  題: Re: 奈米加工現像 有人可以幫我解釋嗎
發信站: KKCITY (Fri Aug 29 01:42:56 2003)
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※ 引述《[e-mail] (加油)》之銘言：
> 我有一個問題想請教各位,有關材料在奈米等級加工出現的現像.
> 當我在金薄膜上做奈米等級的加工,類似切削的模式,
> 首先AFM(原子力顯微鏡)探針,接觸金薄膜,施加壓力後直線推曳,
> 此時,我可以偶爾發現右邊的堆屑似乎會有比左邊多的情形,
> 這個現像似乎是常有的情形,想請教各位有沒有可以解釋的理由


  會不會是跟你切的方向與其結晶方向有關

  以 FCC 來說  若你切的方向是平行 [110] 但略往 x-aixs 方向偏

  而且切割是以直線  這樣你切到的是原子的左半邊

  會造成大多原子偏往右半邊堆積  這樣就會有一邊的堆屑比另一邊多

  而且這種現象在介觀的奈米等級來說會比較明顯

  不知對否 有錯請指教
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發信人: [e-mail] (  ), 看板: Physics
標  題: Re: 奈米加工現像 有人可以幫我解釋嗎
發信站: 不良牛牧場 (Fri Aug 29 14:09:17 2003)
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※ 引述《[e-mail] (加油)》之銘言：
: 我有一個問題想請教各位,有關材料在奈米等級加工出現的現像.
: 當我在金薄膜上做奈米等級的加工,類似切削的模式,
: 首先AFM(原子力顯微鏡)探針,接觸金薄膜,施加壓力後直線推曳,
: 此時,我可以偶爾發現右邊的堆屑似乎會有比左邊多的情形,
: 這個現像似乎是常有的情形,想請教各位有沒有可以解釋的理由

   1.你劃線的方向和cantilever垂直還是平行? 或是您兩個方向都有試過?

   2.有沒有可能是afm掃圖本身的問題，您有用別的儀器看過加工過的樣品嗎?


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發信人: [e-mail] (加油), 看板: Physics
標  題: Re: 奈米加工現像 有人可以幫我解釋嗎
發信站: 清華資訊(楓橋驛站) (Fri Aug 29 16:29:34 2003)
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※ 引述《[e-mail] (  )》之銘言：
> ※ 引述《[e-mail] (加油)》之銘言：
> : 我有一個問題想請教各位,有關材料在奈米等級加工出現的現像.
> : 當我在金薄膜上做奈米等級的加工,類似切削的模式,
> : 首先AFM(原子力顯微鏡)探針,接觸金薄膜,施加壓力後直線推曳,
> : 此時,我可以偶爾發現右邊的堆屑似乎會有比左邊多的情形,
> : 這個現像似乎是常有的情形,想請教各位有沒有可以解釋的理由

>    1.你劃線的方向和cantilever垂直還是平行? 或是您兩個方向都有試過?

基本上行徑方向與cantilever平行

垂直是量測側向力


>    2.有沒有可能是afm掃圖本身的問題，您有用別的儀器看過加工過的樣品嗎?

我想加工的表面沒有問題
afm也沒有問題
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