推 qwqmmmm: 謝謝您 01/01 20:30
推 doggly: 推 01/01 20:35
推 tony9211: 這篇很棒 01/01 20:39
推 nobody741: 感謝 01/01 20:43
推 Homedoni: 這篇很棒 但更正一下WAT 是wafer acceptance 01/01 20:48
推 qqdan: 是wafer acceptance test 01/01 20:58
→ qqdan: CP是circuit probing,不是circuit probeing 01/01 20:59
謝謝 縮寫用慣了 細節就漏掉了
推 sclismeok: 推 01/01 20:59
推 ioeve: 感謝分享 01/01 21:04
推 hf023: 感謝分享 01/01 21:06
推 slag: 推 01/01 21:08
推 tony1768ya: 推 01/01 21:08
推 kk123: CP 不是 Chip Probing 嗎? 01/01 21:10
推 qq1234: 01/01 21:10
→ kk123: FT 是 Final Test 01/01 21:10
FT是Final Test沒錯,簡單來說是指封裝後測試
CP的C用Circuit 或 Chip都沒問題,你用OM看chip,裡面就是Circuit
推 kingbo: 讚,很詳細 01/01 21:17
推 wu128pcman: 真 IC測試指南 推! 01/01 21:25
推 zhuzii: 認真 推 01/01 21:28
推 Armuu: 感謝分享 01/01 21:32
推 ToTaiwan: 推 01/01 21:36
推 Insect: 蠻準的,我當過testing house的測試產品工程師 01/01 21:37
→ Insect: 待了四年應該算夠資深,現在工作內容和半導體測試完全沒相 01/01 21:38
→ Insect: 也是之後衍伸出的技能樹 01/01 21:39
推 as891339: 推 01/01 21:50
推 xru03: 推分享 01/01 21:51
推 w61036: 這個機械轉的過嗎..Q 01/01 21:58
機械也可以啦 有看過土木也來做的 只是通常都從封測廠開始熬而已
推 hh440977: 推 01/01 22:04
推 abaloneman: 好文章 值得流傳後世 人家來問IC測試是啥 就回這篇! 01/01 22:07
推 princeman: 很棒 01/01 22:08
推 dd410504: 專業推! 01/01 22:12
推 motherboard: 請問IC的自動化測試是啥東西嗎? 01/01 22:26
Automatic test 泛指 IC在出廠前會進行很多的AC/DC電性測試項目
將它整合到只要壓一個按鍵就能依照TestFlow全部測試完成並產生測試資料的程度
推 goku0718: Te幫推 01/01 22:29
推 st903202xp: 推 01/01 22:35
推 powergreen: 推 01/01 22:37
推 q1e5t9u6o3: 推 01/01 22:45
推 darkangel119: 路過推 01/01 22:56
推 paul6226987: 路過給推 01/01 23:01
推 sk050607: 請問原PO懂IC設計驗證工程師和測試工程師的差別嗎? 01/01 23:07
我也寫FPGA,所以也有做驗證跟Demokit,但不是專門用SV的Team
以我經驗來說,Test Eng 是讓 Tester 作為Master+Power 把訊號及PATTERN打入DUT內
而Design Verification 是建立 Testbench 作為Master/Slave 驗證I/O屬性
確認Pipeline以及Coverage \ Event 的設計
推 belatrixluci: 推,太感謝了 01/01 23:16
推 belatrixluci: 請問在Design house的測試有機會轉設計端嗎?如何 01/01 23:24
沒有,去碩士班寫一顆基本的PLL並且下線過才有機會
→ belatrixluci: 加強自己以利轉? 01/01 23:24
推 nevinyrrals: 優文推 01/01 23:31
推 PBS9382: 感謝感謝 我就是自求多福的那個... 01/01 23:32
推 ALDNOAH5566: 還有module 測試 01/01 23:44
做demokit或Module Board嗎,有做過幾個RF用的
推 r30385: 推 01/01 23:45
推 b835040: 推 01/01 23:50
推 QQflower: 謝謝 01/01 23:50
推 h816090: 好文推!wat和CP差在哪呢?什麼是testkey阿? 01/01 23:59
收集資料不同
WAT會有EPI特性的資料,像是beta值或R_on等等,實務上測5點或25點皆有
CP則是會有open/short,High/Low Level,以及各種功能性測試資料(IC不同項目不同)
testkey則是在Wafer上犧牲一些成品面積,作為驗證客戶研發階段的demoIC
或是驗證一些被動元件的最佳化,像是電感要兩層metal繞三圈或三層metal繞兩圈
諸如此類的特性驗證
推 LieTo: 幫推 01/02 00:11
推 n791116: IC驗證通常要會python,Perl,C,C++,Verilog 01/02 00:19
→ n791116: 測試工程師通常不用會寫程式 01/02 00:20
→ n791116: 測試工程師87%都是年輕正妹 01/02 00:21
推 tomyou1234: 推 01/02 00:23
→ n791116: 例如: 網路線插拔100次後看有沒有問題 01/02 00:37
python or perl 是用來轉換資料的,ATE本身就有,所以用不到
C/C++通常用來built PHY,你應該是在Linux或用Visual Studio來開發的
這種PC Based 的測試是屬於System Level,如測試外接盒的BridgeIC功能
或是用在single Package 的IC,如CIS,VGA,CPU,FPGA上
網路線插拔或是拉力實驗這種工業控制的機台用PLC寫的很多,用人的幾乎找不到了
推 james112214: 幫推 01/02 00:56
推 vm3tl6vup: 謝謝分享 01/02 01:29
推 b2856088: 哈哈 設備工程師有辦法轉職到這行業嗎 01/02 03:09
也可以,這行跟設備的屬性也差不多
推 sorrer111: 推 01/02 03:29
推 iptt33: 好文推一個 01/02 07:32
推 d5168: 好文必推~ 01/02 08:14
推 jghn1119: dft 薪水比te 多喔 01/02 08:45
DFT 也是門學問,很多Functional Pattern , MBIST / SCAN Test Pattern 是給DFT建的
在TE端大部分建simply Function Pattern 而已
推 timtdsas: 推學問 01/02 09:00
推 asabase: 推 01/02 09:08
推 ken81521: 如果是b自求多福還有救嗎? 01/02 09:26
如果你很會Social,英文溝通無礙,可以轉半導體端的客戶工程師,類似PM+Presales
推 belatrixluci: 請問四個種類之間也可以互相轉嗎? 01/02 09:51
一般來說,都可互轉,但通常轉4比較多(有遮羞費跟車補),4是少數經歷>>>>>學歷的
3轉1通常要求學歷背景,而且調薪幅度可能不高
2就是吃大鍋飯穩定上下班,蠻多有家庭的進2是很好的選擇
※ 編輯: ghost008 (36.226.158.216), 01/02/2019 10:06:47