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請問一般來講 若在訊號輸入端需要一個很大的de_coupling電容(可能是50pF 或者更高) 這樣大的電容若畫在chip上 一定會佔掉大部份的面積 請問這樣的dc block電容 可以在量測時 在probe放一個dc block嗎? 若是可以 那麼我們在模擬時要怎麼估這個dc block的效應?? 謝謝 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 140.112.48.110
ihlin:什麼頻率要用到50pF啊?太大就放off-chip啊 75.35.105.156 09/06 09:44
ihlin:parasitic就去廠商網頁找 75.35.105.156 09/06 09:45
xuwei:我聽說在量測時在probe放一個DC_BLOCK 140.112.48.110 09/06 09:57
xuwei:然後這個DC_BLOCK是接近理想的 140.112.48.110 09/06 09:59
Kunyou:一般是在probe與儀器間加bias tee 140.112.19.56 09/08 20:51
Kunyou:校準時可以同時把bias tee效應校準掉 140.112.19.56 09/08 20:52