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※ [本文轉錄自 PhD 看板 #1DbqjyjW ] 作者: littlest (讀冊人...) 看板: PhD 標題: [問題] 關於Ni結晶度的量測 (急~~~) 時間: Sun Apr 3 00:14:49 2011 之前投稿一篇paper, 關於利用無電電鍍得到多孔性結晶鎳的研究, 最近結果回來了, major revision, 我們用了SAED跟XRD鑑定合成出來了鎳是高度結晶性的, 可是reviewer給的其中一段comments是這樣的: ----- Both SAED and XRD can only detect crystalline impurities, but I would expect at least the presence of an amorphous oxide layer. Photoemission spectroscopy should be used to check for the presence of an oxide layer. ----- 因為這一篇研究是我第一次跨到金屬材料領域, 所以有些地方不是很了解, 想請問對於金屬材料鑑定熟悉的專家, 如果從我的SAED跟XRD結果, 都無法明顯看到 NiO 或是 Ni(OH)2 的存在時, 真的如reviewer講得, 證據仍不足, 還是要做 XPS 的量測嗎? 還是說有其他更簡單跟直接的證據去說服這件事呢? 此外, 若要量測多孔性材料的密度時, 有什麼方法可以量測小量的sample? (因為sample量很少, 所以希望檢測的方法越不消耗sample越好) 因為editor給我的回覆時間只有三星期, 怕時間會來不及做實驗, 謝謝各位大大回覆 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 61.216.0.93 littlest:轉錄至看板 Chemistry 04/03 00:21 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 61.216.0.93
NBL123:不知道你TEM的試樣是怎麼做的 如果是cross section 04/03 01:11
NBL123:有沒有oxide layer應該很清楚看得出來 04/03 01:12
GSJ:同樓上 看看HR有沒有 amorphous layer就好啦 04/06 23:50