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小弟研究需要量測氮化矽薄膜經過處理後的鍵結 因為是用機台鍍膜所以一定要用到基板 而目前使用的是PC板鍍SiNx 不過出來的結果包含一堆雜訊 想請問一下板上的各位有無辦法 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 124.11.174.215 ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/ChemEng/M.1426690910.A.210.html
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