[問題] SAR ADC之比較器遇天線效應&拆解MIMCap PDK之疑問

[dinocyj (棄子)]

大家好

小魯在設計SAR ADC之比較器時

沒有顧慮到此問題(Antenna Rule)

小魯的MIM CAP相對於比較器的input gate 比例超過限制

小魯上網查了一下

可以用跳線法解決此問題

但是有點不是很理解這方法的使用規則@@?

另外小魯想到的方法是

加大input pair 的sizing

但是pre-sim的ENOB卻因此而下降

想問各位前輩 有更高深的解法嗎@@?

另外有方法在pres-im 就事先預防嗎?



謝謝您耐心的閱讀:)

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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 111.248.117.235
※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1441812180.A.839.html
※ 編輯: dinocyj (111.248.117.235), 09/09/2015 23:25:16
推 EZjoy: 電容下板先往上層metal走，再往下接到你要的地方
小魯使用的是top plate sampling
cap的上板(M6) 必須接到比較器的input 和 SAH
使用的的製程(U18)最高也是M6

另外小魯想加問
小魯把PDK裡的MIM CAP flatten後
把它由原來的長方形改成 正方形方便layout
也想看能否減少寄生電容
不知道這樣做會不會影響到真實的電路呢?

另外小魯看到M6 連接MMC層是使用VI5
這樣對嗎@@?
第一次拆PDK
而且是最重要的電容....
我覺得有點恐怖QQ
※ 編輯: dinocyj (111.248.117.235), 09/09/2015 23:51:22
→ nevinyrrals: diode
推 kameng: https://en.wikipedia.org/wiki/Antenna_effect
→ kameng: 加diode應該是最快的
推 EZjoy: PDK給你的應該是一端出在M6一端出在M5,M6那邊就接比較器輸
→ EZjoy: 入，M5要先用via接到M6走一段之後再用via接到低層Metal，然
→ EZjoy: 後再接到你的inverter輸出
→ EZjoy: 另外，電容不建議自己修改，因為你改了之後，mismatch mide
→ EZjoy: l就不準了
→ EZjoy: ”model"



他是長方形的 bottom的M5 有在旁邊上到M6



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不知道為啥畫完圖右邊分開了0.0
因為有多餘的地方
小魯把他拆掉@@
※ 編輯: dinocyj (223.137.202.151), 09/11/2015 02:34:52
→ lusitani: Input pair的Cin對電容陣列造成charge sharing了吧?