[問題] 請問幾個半導體測試的專有名詞

[gecer (gecer)]

小弟看到半導體測試機會有參數名稱 "probe to pad alignment"  "Overdrive"
請教這兩個名詞是什麼意思?

--
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 114.32.180.150
※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1471090220.A.A10.html
推 chen20: OD針壓
推 ece8324: probe to pad alignment 指的應是待被測試元件上的 test
→ ece8324: pad 與測試配件(例如probe card,中譯為探針卡)需做好定位
→ ece8324: (alignment)的動作，才能做正確有效的測試
→ ece8324: 上述有效正確的測試，除了要做定位(alignment)外，該測試
→ ece8324: 配件亦需許加上適當的針壓(O/D: overdrive)在該待測試元
→ ece8324: 件上
→ ece8324: 定位動作的做法是，找尋該待測試元件上的特殊唯一的圖案(
→ ece8324: pattern)，去對每個待測試元件定位
→ ece8324: 如有錯誤，請指正
感謝大大清楚解說  不過小弟想知道為什麼OD單位也是"距離" ex 50um
※ 編輯: gecer (114.32.180.150), 08/15/2016 08:20:09
推 ece8324: 你想像一下打針用的針筒，當針筒戳進某一個物件裡，戳進
→ ece8324: 去的深度把它類比成針壓，這樣解釋，ok嗎