[問題] IC測試疑問

[TarTo (害羞小男孩)]

Hi 小弟對於IC測試有幾個疑問,想要與板上前輩們請益

1.EQC:

所謂EQC就是對測試完Pass的IC做抽樣測試,會用比較寬的limit做測試,

正常來說是要100% PASS的.

2.測試flow

測試flow一般有兩種1.fast binning(測到某個item fail就停止測試)

                  2.Run to end  (測試所有item不管有沒有fail)

但若是在EQC時,使用Run to end會有造成打死IC的可能,這是為什麼呢?

希望版友們能幫忙解惑,謝謝

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→ TarTo: high power進去 有可能造成damage嗎?
推 magi2: 直接run to end可能發生非預期結果，最常見就是ic放反或放
→ magi2: 錯型號，應該會停在open short，結果因為byPass讓後面的項
→ magi2: 目給燒了
→ windlins: 你全測的話等於是開override在測,有可能測到後面margin
→ windlins: fail二次測則超出spec fail,若是DC的測項要注意電流是否
→ windlins: 有越測越大的現像,若EQC越測越多fail那就需要整批報廢了
→ windlins: 。