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在半導體製程中都有隔離製程(isolation) 目的是阻絕兩個元件因漏電流導通,或是隔絕電流,讓電流不要流到不想要的地方 但不同的device似乎用的隔離方式不同: 1.運用在IC CMOS中,在NMOS與PMOS中間,挖個洞填入Oxide就好 ꀠ網路上查是他可以阻斷形成CMOS中的寄生BJT,防止latchup ꀠ但實際上的作用沒寫很清楚。 2.運用在Horozontal / Vertivcal PowerMOS中,挖個洞填入n-poly或p-poly ꂠ ꀠ或是挖個洞填入oxide,也有人先填Oxide在填入poly變MOS隔離 3.運用在CCD/CMOS中,同2的形成法 4.運用在Biopolar中,使用擴散井(well)隔離兩元件,及使用埋藏層(n-buried)隔離漏電 想請問這四種Isolation分別是運用哪種原理,使其結構具有Insulator功效 還是有哪本書有寫 謝謝! -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 39.8.163.166 ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1492500270.A.77A.html
kn930121: 印象中蕭宏的半導體製程好像有寫 但不是很確定 04/18 22:46
k9966809: 有喔 我記得是第六 還第七 04/21 03:26