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各位大大 小弟最近在測試MCU時 發生了一個問題 目前很單純的用測試機測試Openshort 測試方式為Power & Ground都0電位 對I/O給電流 看電壓的大小判斷PASS/FAIL(FIMV) I/O架構如圖 https://imgur.com/tvZcNVt 但實際測試時 會有些I/O有Clamp的狀況 但直接對IC用電錶量測 可以得到正常的電壓(0.7V) 後來用測試機做一個實驗 Flow: DPS0V-->FIMV 50uA(Voltage clamp)-->FIMV 200uA(Voltage=0.7V) 一開始先提供一個50uA的小電流,也是一樣會Clamp 但把他ignore 後面直接測試原本的測試內容 就可以量到正常的電壓了(0.7V) 煩請各位大大解惑~ -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 60.251.54.214 ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1506337284.A.C12.html
HiJimmy: 保護二極體的關係? 測試結果跟設輸入/輸出狀態有關聯嗎 09/25 19:28
IC應該為原始狀態 由於這是客戶的IP 所以狀態不知 ※ 編輯: stevenyng88 (117.19.98.17), 09/26/2017 10:32:03
furio: 電流輸入規格Ii>50uA? schmitt input 可能要注意一下 09/26 11:04