[問題] 開關的切換損耗原理

[newwrite (jikk)]

在開關電路中

因為開關暫態現象導致切換時會有動態損耗發生

一般說明也只會丟ID-VD的圖，

VD緩步上升時，ID沒有馬上降到零所以有功耗，

配合文字"是因為MOSFET電容造成的，

但沒有解釋原理，

還有ZCS與ZVS如何達成的原理也沒解釋，

請問有哪個資料會說明比較詳細？

感謝




--
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 110.26.0.97 (臺灣)
※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1654700362.A.068.html
→ samm3320: clock不斷在跑的時候，mos的寄生電容會一直進行充放電造
→ samm3320: 成的功耗
→ samm3320: 你去修任何一門VLSI 的課都會講
→ DamnKobe: 找ti driver的application notes 這一般再加上VGS圖會
→ DamnKobe: 比較好瞭解吧
→ samm3320: https://reurl.cc/NADgmk
→ samm3320: 把這個網站看完應該差不多了
→ DamnKobe: ZVS, ZCS基本概念應該可以說成讓電壓/電流產生想要的相
→ DamnKobe: 位差吧
→ samm3320: ZVS ZCS好像已經比較power專門了
推 icesweater: dynamic loss, switching loss,領域不同叫法不一樣，
→ icesweater: 不過都是看導通時的mos寄生電容跨壓
推 macgyfu: https://www.richtek.com/Home/Design%20Support/Technic
→ macgyfu: al%20Document/AN005?ForceDevice=1&devicename=Richtekw
→ macgyfu: eb&sc_lang=zh-TW
推 macgyfu: https://reurl.cc/p14vVl