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請問ic上的電晶體有容錯機制嗎? ic上的電晶體幾百億個 全部成功 一個都作沒失敗 覺得很誇張 一個失敗了就報廢一顆晶片 好像也不太可能 所以到底是怎樣呢 -- 問了幾個在台積 聯發科的朋友都說不知道 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 118.232.0.118 (臺灣) ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1681383785.A.1A5.html
god145145: 螢幕壞一點也是能看 大概是這概念 04/13 19:22
DRQX: 不要用數位的觀念看類比系統 04/13 19:33
hsucheng: 看你是怎樣錯啊 function還是manufacturing 04/13 21:15
hsucheng: 有drc lvs formal卡關 還會錯是誰的問題 04/13 21:15
hsucheng: post sim沒有考慮process variation或是design margin? 04/13 21:23
FTICR: 不會壞幾顆就整個晶片不能用 04/13 22:07
tomsawyer: 有些有double via之類的容錯 04/14 02:01
tkhan: 有測試刷掉不能用的ic,就是良率問題 04/14 07:41
lovealgebra: 你的錯是什麼意思?degradation ? 04/15 13:52
samm3320: 看成本吧,你要double via跑出來面積就比較大 04/15 17:50
samm3320: 如果你是車規要更安全也可以放備援系統 04/15 17:51
furio: 你買隨身碟很多同規格容量差一點點,就是這因素 04/15 20:13
BellCranell: DFT有卡 量率CPFT有卡 那剩下會有問題就自然損耗或人 04/16 14:20
BellCranell: 為而已 04/16 14:20
chmod: 錯指的是電晶體不能正常運作 04/17 23:18
Schottky: 何謂正常,Beta 值上下偏移嗎,那在 Spec 上範圍寫大點 04/18 02:17
Schottky: 先射箭再畫靶就好,這麼簡單 04/18 02:18