[問題] 薄膜量測熱膨脹係數(CTE)

[stacy760414 (Hurricane)]

版上各位晚安,

公司內部要開始建立材料的熱膨脹係數,

Vender提供的是以TMA測定的CTE數值,

我們希望能量測材料在實際應用面時呈現的數值,

因此希望能將材料以薄膜方式圖佈在基材上去做量測,

目前找到的方法有微懸臂量測(From 學術界),

但sample製作相當費工,

可能無法考慮每種材料都這樣做,

同時也有找到利用奈米壓痕跡測試CTE,

但目前可以送測的單位也遇到無法量測的問題(控溫系統無法控制)

不知道各位是否有推薦可以量測的方法?


本身非機械領域,

大部分資訊都是查詢後

發現學術界會探討薄膜機械性質或特性的多為機械系,

因此來版上詢問~

隔行如隔山, 先謝謝各位指點囉!!


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推 phisch: 可以以公司名義向宜特或SGS詢問他們家有怎樣的機台可以達
→ phisch: 到你要的需求吧
→ stacy760414: p大這方面我們也有詢問，但目前都沒有符合需求的測定
→ stacy760414: 方式
推 king786945: 熱膨脹係數不好測喔 建議你去問學校教授
推 phisch: 你的薄膜是微米還是奈米等級？如果塗布在膜材上不會擔心被
→ phisch: 膜材的cte干擾嗎? 如果是拉伸的pet膜還要考慮md/td方向的c
→ phisch: te差異跟熱後縮等
→ stacy760414: 膜材主要是2-50um等級，塗布在Si wafer上，因為想知
→ stacy760414: 道實際應用狀況所以想確認有被影響狀況下的CTE