[討論] 測量熱傳導係數

[willy31418 (Afu)]

如題，各位資深的熱流專業大大們
想請問目前有沒有儀器設備可以測量
任何尺寸樣品的熱傳導係數，
目前公司主要目的是想量測厚度
約為1微米的薄膜材料之熱傳導係數
不知道有沒有能做到的儀器。

另外，我在網上無意間找到一家代理
公司，叫勢X科技，他們有樣產品感覺
符合我想要的條件，但我對他抱持一些
疑問，想請高手們幫我解答
https://i.imgur.com/jOz7eqA.jpg
如圖他的產品原理寫說：
利用探頭的加熱元件上會發出
一股熱源提供小面積的熱量，
這股小面積的熱源將升高探頭與樣品
接觸的表面溫度( 通常會低於2度)，
這個在表面升高的溫度會導致探頭
熱元件上電壓的降低。
探頭熱元件的電壓升高的比率
將被用來決定樣品材料的熱物理性質，樣品材料的熱物理性質與探頭熱元件
的電壓率成反比，探頭的電壓降與
探頭介面的溫升相關。

利用此原理，我們可以快速測得熱傳導的相關係數並且測試結果可即時顯示在軟體上。

但我導不出電壓變化量與k值的關係
實在不是很懂他的原理。

在這之前，我們量測有厚度的材料都是
利用測量兩邊面的溫度差，透過傅立葉定律來求得k值，但因為薄膜太薄故不適用，所以
想問問各位覺得這款商品
只要量測單面即可求的k值的方法是不是正確的，好讓我慎重的考慮購買，

謝謝各位，麻煩了。

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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 49.218.68.22
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※ 編輯: willy31418 (49.218.68.22), 03/23/2019 01:25:57
推 spirit119: 不負責任亂猜       Transient Plane Source Method？
推 leebiggtest: 不負責任亂猜 靠熱膨脹收縮 然後再推回去求k
推 Enoch0118: 樓上應該是對的，一般溫度量測都是靠熱膨脹原理讓材料
→ Enoch0118: 產生電壓變化進而推算出該點的溫度，而已知待測物上下
→ Enoch0118: 溫差及給定額的瓦特數，就可以推算出材料的熱傳導係數
→ Enoch0118: 了。
推 sshyu954: 通常必需依據規範來做，你可以查一下
推 spp100: 特徵長度是1微米, 請問熱傳導系數與特徵長度的線性關係
→ spp100: 存在的範圍區間. 這樣會不會比較容易寫成論文?
→ shiow1026: 電壓變化只是溫度產生的席貝克效應吧 根據這個就可以
→ shiow1026: 知道溫度差…
→ shiow1026: 目前我知道兩種量測薄膜的最佳方法就雷射脈衝和3-omeg
→ shiow1026: a方法 這種探針式的頂多0.01mm就很極限了
→ willy31418: shiow大，你的回答很有幫助！
→ willy31418: 謝謝！
→ willy31418: 但我想問，這個儀器只有單邊接觸樣品，金色那個只是砝
→ willy31418: 碼，這樣的話算是席貝克效應嗎？謝謝
→ shiow1026: 你好像有點誤會了 溫度造成電壓差 這叫席貝克效應 不
→ shiow1026: 管你幾面接觸 都是一樣
→ willy31418: 好的，謝謝你的回覆
推 shiow1026: 目前最準的就3-omega方法 我最薄的厚度有到2奈米 不過
→ shiow1026: 我是送去日本認識的實驗室測就是了…