看板 comm_and_RF 關於我們 聯絡資訊
版上的大家,大家好~~ 我非本科系出身,論文題目是用silicon drift detector來偵測材料的特徵x光, 測試時是利用鐵55射源激發矽晶片中的電子電洞對, 然後產生電流脈衝經由放大器放大再送到多通道分析器作分析 只是目前晶片做出來了但是在測試的時候背景雜訊太大所以沒看到peak 由於x光頻率在300PHz~30EHZ,頻率蠻高的, 想請問要怎麼設計這頻段的帶通濾波器來把雜訊濾掉??? 還是是要算出激發出的電流的頻率範圍作帶通濾波呢?? 要處理像x-ray高頻率的電路在設計上有甚麼需要注意的呢 麻煩版上的大家了 謝謝 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 140.114.237.183 ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/comm_and_RF/M.1442244690.A.4BD.html
bxxl: 沒做過X光的,紅外線的話通常是用光電元件118.160.229.190 09/15 09:00
bxxl: 轉成電訊號,再做處理吧.118.160.229.190 09/15 09:00
bxxl: 轉成電訊號就跟光源的頻率無關了,他只看得到118.160.229.190 09/15 09:01
bxxl: 光強度變化的頻率,比光本身頻率低很多很多118.160.229.190 09/15 09:01
bxxl: 或是在光域進行濾波,大概是用濾光片?118.160.229.190 09/15 09:04
bxxl: 總之,沒有處理x-ray高頻的電路這回事118.160.229.190 09/15 09:05
bxxl: 若直接在光域濾波:用光學元件而非電路118.160.229.190 09/15 09:07
bxxl: 若轉成電再濾波,此時也沒有xray的高頻了118.160.229.190 09/15 09:08
chao30040: 謝拉~~有一點方向了140.114.237.183 09/16 00:04
tonybin: 長見識了 111.249.97.40 09/16 00:07
chao30040: 只是說假設x光轉換成電流訊號後要怎麼140.114.237.183 09/16 01:40
chao30040: 找出他轉換後的頻率範圍然後濾掉雜訊呢140.114.237.183 09/16 01:40
bxxl: 做頻譜分析. 比如說有些視波器內建DFT的功能 118.160.218.72 09/16 08:37
bxxl: 或是轉成數位訊號之後用軟體算DFT 118.160.218.72 09/16 08:38
bxxl: 也可以算理論上,有用的訊號產生的頻率應在哪 118.160.218.72 09/16 08:40
bxxl: 這樣至少有個概念大概什麼位置 118.160.218.72 09/16 08:41
chao30040: 太感謝你了 我會再試試看的140.114.237.183 09/18 01:11
bxxl: 發現打錯字, 示波器才對 118.160.218.72 09/18 15:26